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Biblioteca Santiago Antúnez de Mayolo

Metrología / Jaime Restrepo Díaz

P?blico ISBD T�tulo : Metrología : aseguramiento metrológico industrial Tipo de documento: texto impreso Autores: Jaime Restrepo Díaz, Autor Editorial: Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano Fecha de publicación: 2007 Colecci�n: Textos académicos N�mero de páginas: t. Il.: il. Dimensiones: 23 cm. Nota general: La biblioteca sólo tiene el tomo 1 Idioma : Español (spa) Idioma original : Español (spa) Clasificaci?n: Metrología Sistemas de medición Clasificaci?n: 389.1 Nota de contenido: La medida -- La metrología -- Servicio Nacional de Metrología -- Sistema Internacional de Unidades "SI" -- Reglas generales para el uso del Sistema Internacional de Unidades de Colombia -- Gestión metrológica -- Etapas básicas del aseguramiento metrológico -- Análisis de incertidumbre de la medición -- Análisis de la repetibilidad y reproducibilidad (R&R) -- Control Metrológico -- Designación de personal competente para la gestión metrológica. ISBN : 978-958-97823-7-8 Metrología : aseguramiento metrológico industrial [texto impreso] / Jaime Restrepo Díaz, Autor . - Medellín : Instituto Tecnológico Metropolitano, 2007 . - t. : il. ; 23 cm.. - (Textos académicos) . La biblioteca sólo tiene el tomo 1 Idioma : Español (spa) Idioma original : Español (spa) Clasificaci?n: Metrología Sistemas de medición Clasificaci?n: 389.1 Nota de contenido: La medida -- La metrología -- Servicio Nacional de Metrología -- Sistema Internacional de Unidades "SI" -- Reglas generales para el uso del Sistema Internacional de Unidades de Colombia -- Gestión metrológica -- Etapas básicas del aseguramiento metrológico -- Análisis de incertidumbre de la medición -- Análisis de la repetibilidad y reproducibilidad (R&R) -- Control Metrológico -- Designación de personal competente para la gestión metrológica. ISBN : 978-958-97823-7-8

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Metrología / Adolfo Escamilla Esquivel

P?blico ISBD T�tulo : Metrología : y sus aplicaciones Tipo de documento: texto impreso Autores: Adolfo Escamilla Esquivel, Autor Editorial: México, D.F. : Grupo Editorial Patria Fecha de publicación: 2009 N�mero de páginas: xii, 138 p. Il.: il. Dimensiones: 25 cm. Idioma : Español (spa) Idioma original : Español (spa) Clasificaci?n: Metrología Medición Clasificaci?n: 389.1 Nota de contenido: Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres -- Bloques patrón. ISBN : 978-970-817-233-2 Metrología : y sus aplicaciones [texto impreso] / Adolfo Escamilla Esquivel, Autor . - México, D.F. : Grupo Editorial Patria, 2009 . - xii, 138 p. : il. ; 25 cm. Idioma : Español (spa) Idioma original : Español (spa) Clasificaci?n: Metrología Medición Clasificaci?n: 389.1 Nota de contenido: Conceptos de metrología -- Instrumentos de medición dimensional -- Tolerancia y mediciones -- Incertidumbres -- Bloques patrón. ISBN : 978-970-817-233-2

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